光学测量装置和光学测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010249528.8

申请日：

2020-04-01

公开(公告)号：

CN111795642A

公开(公告)日：

2020-10-20

发明(设计)人：

今泉良一谷口一郎

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1102 G01B1108

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

王冉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-20	公开	公开
2021-12-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20200401

共 50 条

[21] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN120558845A ,2025-08-29

[22] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

中国专利 :CN112710634A ,2021-04-27

[23] 光学测量方法和装置 [P].

法布瑞斯·卡拉米 .

中国专利 :CN102252608B ,2011-11-23

[24] 具有滑块的光学测量装置和光学测量方法 [P].

安德烈·克拉斯 .

中国专利 :CN103389047B ,2013-11-13

[25] 光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺 [P].

王勇 .

中国专利 :CN104254755B ,2014-12-31

[26] 光学测量装置、内窥镜系统以及光学测量方法 [P].

后野和弘 .

中国专利 :CN103281948B ,2013-09-04

[27] 光学测量系统和光学测量方法 [P].

大久保和明 ;

格雷格·麦基 .

中国专利 :CN103477196B ,2013-12-25

[28] 一种光学测量装置及光学测量方法 [P].

赵连军 ;

韩欣欣 ;

李致廷 ;

李德俊 ;

边宗丽 .

中国专利 :CN119688251A ,2025-03-25

[29] 光学测量装置、流量现场测量计及光学测量方法 [P].

村木洋介 .

中国专利 :CN101923046A ,2010-12-22

[30] 光学测量方法 [P].

M·芬凯尔蒂 .

德国专利 :CN111721230B ,2024-06-04

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