光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201380009143.2

申请日：

2013-09-10

公开(公告)号：

CN104254755B

公开(公告)日：

2014-12-31

发明(设计)人：

王勇

申请人：

申请人地址：

新加坡新加坡大巴窑第2巷大牌122号13楼22室

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01C1506 G01D5347

代理机构：

深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368

代理人：

李永华;张广兴

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-05-10	授权	授权
2015-08-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101619467025 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2013800091432 申请日:20130910
2014-12-31	公开	公开
2021-08-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20130910 授权公告日:20170510 终止日期:20200910

共 50 条

[1] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[2] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

[3] 光学测量系统及光学测量方法 [P].

蔡泰成 ;

吴岱纬 ;

廖冠咏 ;

许国君 ;

许寿文 ;

李允立 .

中国专利 :CN103364078A ,2013-10-23

[4] 光学测量系统和光学测量方法 [P].

大久保和明 ;

格雷格·麦基 .

中国专利 :CN103477196B ,2013-12-25

[5] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

高堉墐 ;

刘朝辉 ;

郑伊凯 ;

王世昌 ;

王大祥 .

中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14

[6] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN112710634B ,2025-06-24

[7] 光学测量方法及光学测量装置 [P].

松村淳一 ;

大久保宪治 .

中国专利 :CN1721841A ,2006-01-18

[8] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

梶井阳介 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN112639392B ,2021-04-09

[9] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

梶井阳介 ;

的场贤一 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN110058249A ,2019-07-26

[10] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

井上展幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN109405752B ,2019-03-01

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