光学测量系统和光学测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201180069806.0

申请日：

2011-10-13

公开(公告)号：

CN103477196B

公开(公告)日：

2013-12-25

发明(设计)人：

大久保和明格雷格·麦基

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01J102

IPC分类号：

G01J100 G01M1100

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇;张会华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-09-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101587090903 IPC(主分类):G01J 1/02 专利申请号:2011800698060 申请日:20111013
2016-06-22	授权	授权
2013-12-25	公开	公开
2022-09-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 1/02 申请日:20111013 授权公告日:20160622 终止日期:20211013

共 50 条

[1] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[2] 光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺 [P].

王勇 .

中国专利 :CN104254755B ,2014-12-31

[3] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

[4] 光学测量系统及光学测量方法 [P].

蔡泰成 ;

吴岱纬 ;

廖冠咏 ;

许国君 ;

许寿文 ;

李允立 .

中国专利 :CN103364078A ,2013-10-23

[5] 光学测量方法 [P].

M·芬凯尔蒂 .

德国专利 :CN111721230B ,2024-06-04

[6] 光学测量方法 [P].

M·芬凯尔蒂 .

中国专利 :CN111721230A ,2020-09-29

[7] 光束调节模块、光学测量系统以及光学测量方法 [P].

尚振华 ;

吴玉年 .

中国专利 :CN114754671A ,2022-07-15

[8] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

今泉良一 ;

谷口一郎 .

中国专利 :CN111795642A ,2020-10-20

[9] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

濱田基明 .

中国专利 :CN102565005A ,2012-07-11

[10] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

大泽贤太郎 .

中国专利 :CN105973845A ,2016-09-28

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