光学测量装置和光学测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010249528.8

申请日：

2020-04-01

公开(公告)号：

CN111795642A

公开(公告)日：

2020-10-20

发明(设计)人：

今泉良一谷口一郎

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1102 G01B1108

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

王冉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-20	公开	公开
2021-12-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20200401

共 50 条

[1] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

今泉良一 ;

谷口一郎 .

日本专利 :CN111795642B ,2024-06-18

[2] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

濱田基明 .

中国专利 :CN102565005A ,2012-07-11

[3] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

大泽贤太郎 .

中国专利 :CN105973845A ,2016-09-28

[4] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

铃木俊平 ;

今西慎吾 ;

桥本学治 ;

堂胁优 .

中国专利 :CN102192872B ,2011-09-21

[5] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

郑媛 ;

陈大志 .

中国专利 :CN102654465A ,2012-09-05

[6] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

堀田和希 ;

河田阳一 ;

中西笃司 ;

藤田和上 ;

高桥宏典 ;

里园浩 .

中国专利 :CN110231299A ,2019-09-13

[7] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

陈大志 ;

郑媛 ;

孙晓伟 ;

史伟杰 .

中国专利 :CN102645437A ,2012-08-22

[8] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[9] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

[10] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

高堉墐 ;

刘朝辉 ;

郑伊凯 ;

王世昌 ;

王大祥 .

中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14

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