光束调节模块、光学测量系统以及光学测量方法

被引：0

申请号：

CN202110022797.5

申请日：

2021-01-08

公开(公告)号：

CN114754671A

公开(公告)日：

2022-07-15

发明(设计)人：

尚振华吴玉年

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区华佗路68号张江创业园6幢

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01N2101 G01N2121

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

傅远

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-15	公开	公开

共 50 条

[1] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[2] 光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺 [P].

王勇 .

中国专利 :CN104254755B ,2014-12-31

[3] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

[4] 光学测量系统和光学测量方法 [P].

大久保和明 ;

格雷格·麦基 .

中国专利 :CN103477196B ,2013-12-25

[5] 光学测量系统及光学测量方法 [P].

蔡泰成 ;

吴岱纬 ;

廖冠咏 ;

许国君 ;

许寿文 ;

李允立 .

中国专利 :CN103364078A ,2013-10-23

[6] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

髙嶋润 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN110274543B ,2019-09-24

[7] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

田口都一 ;

入江优 .

中国专利 :CN113137929A ,2021-07-20

[8] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

髙嶋润 ;

金谷义宏 .

中国专利 :CN112654834A ,2021-04-13

[9] 光学测量方法以及光学测量设备 [P].

K·克莱恩 ;

P·弗里兹 ;

A·安达姆森 .

中国专利 :CN112368543A ,2021-02-12

[10] 光学测量方法 [P].

M·芬凯尔蒂 .

德国专利 :CN111721230B ,2024-06-04

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