光束调节模块、光学测量系统以及光学测量方法

被引：0

申请号：

CN202110022797.5

申请日：

2021-01-08

公开(公告)号：

CN114754671A

公开(公告)日：

2022-07-15

发明(设计)人：

尚振华吴玉年

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区华佗路68号张江创业园6幢

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01N2101 G01N2121

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

傅远

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-15	公开	公开

共 50 条

[41] 光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

[42] 光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN103403528A ,2013-11-20

[43] 光学测量装置、光学测量系统以及校正用组件 [P].

后野和弘 .

中国专利 :CN102821672A ,2012-12-12

[44] 光学测量系统以及光学成像系统 [P].

王湧锋 ;

余良彬 .

中国专利 :CN106970027B ,2017-07-21

[45] 光源以及光学测量系统 [P].

潘宁宁 ;

田志刚 ;

张军晔 .

中国专利 :CN104849213B ,2015-08-19

[46] 光学视角测量系统及其测量方法 [P].

饶景隆 ;

戴国良 .

中国专利 :CN101191994A ,2008-06-04

[47] 光学测量方法及系统 [P].

尼古拉斯·亨利·汉纳福德·琼斯 ;

尼古拉斯·约翰·韦斯顿 ;

凯维恩·巴里·乔纳斯 ;

乔纳森·戴尔·谢泼德 ;

邓肯·保尔·汉德 ;

马特乌什·马蒂西亚克 .

中国专利 :CN102292629A ,2011-12-21

[48] 光学测量方法和系统 [P].

亚尔科·安蒂拉 ;

尤拉·坎托加维 ;

亚斯·马科耶恩 .

中国专利 :CN107110706A ,2017-08-29

[49] 一种光学测量装置及光学测量方法 [P].

赵连军 ;

韩欣欣 ;

李致廷 ;

李德俊 ;

边宗丽 .

中国专利 :CN119688251A ,2025-03-25

[50] 具有滑块的光学测量装置和光学测量方法 [P].

安德烈·克拉斯 .

中国专利 :CN103389047B ,2013-11-13

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