光学测量系统和光学测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201180069806.0

申请日：

2011-10-13

公开(公告)号：

CN103477196B

公开(公告)日：

2013-12-25

发明(设计)人：

大久保和明格雷格·麦基

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01J102

IPC分类号：

G01J100 G01M1100

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇;张会华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-09-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101587090903 IPC(主分类):G01J 1/02 专利申请号:2011800698060 申请日:20111013
2016-06-22	授权	授权
2013-12-25	公开	公开
2022-09-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 1/02 申请日:20111013 授权公告日:20160622 终止日期:20211013

共 50 条

[21] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

田口都一 ;

入江优 .

中国专利 :CN113137929A ,2021-07-20

[22] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

井上展幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN109405752B ,2019-03-01

[23] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN112710634B ,2025-06-24

[24] 光学测量装置、内窥镜系统以及光学测量方法 [P].

后野和弘 .

中国专利 :CN103281948B ,2013-09-04

[25] 光学测量方法及光学测量装置 [P].

K·克莱恩 ;

P·弗里兹 ;

A·安德森 .

中国专利 :CN112384751A ,2021-02-19

[26] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

井上展幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN109163666A ,2019-01-08

[27] 光学测量设备及光学测量方法 [P].

林校儀 ;

陈兆庆 ;

林宜学 .

中国专利 :CN118817076A ,2024-10-22

[28] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

髙嶋润 ;

金谷义宏 .

中国专利 :CN112654834A ,2021-04-13

[29] 光学测量方法以及光学测量设备 [P].

K·克莱恩 ;

P·弗里兹 ;

A·安达姆森 .

中国专利 :CN112368543A ,2021-02-12

[30] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN120558845A ,2025-08-29

← 1 2 3 4 5 →