光学测量装置、内窥镜系统以及光学测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280004204.1

申请日：

2012-04-17

公开(公告)号：

CN103281948B

公开(公告)日：

2013-09-04

发明(设计)人：

后野和弘

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

A61B100

IPC分类号：

A61B51459 G01N2127

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-10-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101527530723 IPC(主分类):A61B 1/00 专利申请号:2012800042041 申请日:20120417
2015-12-02	授权	授权
2013-09-04	公开	公开
2015-12-02	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101724365209 IPC(主分类):A61B 1/00 专利申请号:2012800042041 登记生效日:20151109 变更事项:申请人变更前权利人:奥林巴斯医疗株式会社变更后权利人:奥林巴斯株式会社变更事项:地址变更前权利人:日本东京都变更后权利人:日本东京都
2018-05-04	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B 1/00 申请日:20120417 授权公告日:20151202 终止日期:20170417

共 50 条

[1] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

髙嶋润 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN110274543B ,2019-09-24

[2] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

田口都一 ;

入江优 .

中国专利 :CN113137929A ,2021-07-20

[3] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

髙嶋润 ;

金谷义宏 .

中国专利 :CN112654834A ,2021-04-13

[4] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[5] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

[6] 光学测量装置以及内窥镜系统 [P].

上村健二 ;

菅武志 ;

庄野裕基 ;

高冈秀行 ;

伊藤辽佑 .

中国专利 :CN104080390A ,2014-10-01

[7] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

铃木俊平 ;

今西慎吾 ;

桥本学治 ;

堂胁优 .

中国专利 :CN102192872B ,2011-09-21

[8] 光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺 [P].

王勇 .

中国专利 :CN104254755B ,2014-12-31

[9] 光学测量装置和光学测量方法 [P].

今泉良一 ;

谷口一郎 .

中国专利 :CN111795642A ,2020-10-20

[10] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

高堉墐 ;

刘朝辉 ;

郑伊凯 ;

王世昌 ;

王大祥 .

中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14

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