基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810110498.5
申请日
2018-02-05
公开(公告)号
CN108375767B
公开(公告)日
2018-08-07
发明(设计)人
李青侠 窦昊锋 桂良启 李育芳 吴袁超 雷振羽
申请人
申请人地址
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号
G01S1390
IPC分类号
代理机构
华中科技大学专利中心 42201
代理人
李智;曹葆青
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]   基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
李育芳 ;
吴袁超 ;
雷振羽 .
中国专利 :CN108375768B ,2018-08-07
[2]   倾斜四反射板镜像综合孔径辐射计及成像方法 [P]. 
李青侠 ;
雷振羽 ;
窦昊锋 ;
李育芳 ;
陈柯 ;
靳榕 ;
桂良启 ;
郎量 .
中国专利 :CN110118968A ,2019-08-13
[3]   基于权向量优化的镜像综合孔径辐射计成像方法及系统 [P]. 
雷振羽 ;
孙瑞 ;
徐杨 ;
梁启超 .
中国专利 :CN119780921A ,2025-04-08
[4]   镜像综合孔径辐射计 [P]. 
李青侠 .
中国专利 :CN103217588A ,2013-07-24
[5]   基于旋转反射面的镜像综合孔径辐射计的成像方法和系统 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
陈柯 ;
李育芳 ;
黄聪聪 ;
胡孟林 .
中国专利 :CN106932774B ,2017-07-07
[6]   全实天线镜像综合孔径辐射计及成像方法 [P]. 
雷振羽 ;
张天柱 ;
董亚洲 ;
孙瑞 ;
徐杨 ;
梁启超 .
中国专利 :CN117491748A ,2024-02-02
[7]   基于外部单点源的镜像综合孔径辐射计误差校正方法 [P]. 
李青侠 ;
窦昊锋 ;
桂良启 ;
李育芳 ;
吴袁超 ;
雷振羽 .
中国专利 :CN108375758A ,2018-08-07
[8]   基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P]. 
窦昊锋 ;
李浩 ;
吴袁超 ;
李一楠 ;
宋广南 ;
吕容川 ;
姜任之 .
中国专利 :CN114185009B ,2025-07-15
[9]   基于方位已知的外部源的镜像综合孔径辐射计校正方法 [P]. 
窦昊锋 ;
李浩 ;
吴袁超 ;
李一楠 ;
宋广南 ;
吕容川 ;
姜任之 .
中国专利 :CN114185009A ,2022-03-15
[10]   综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备 [P]. 
胡飞 ;
付鹏 ;
朱冬 ;
苏金龙 .
中国专利 :CN114200448A ,2022-03-18