开口圆环工件外观缺陷检测方法、系统及计算机存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110437890.2

申请日：

2021-04-22

公开(公告)号：

CN113139943B

公开(公告)日：

2021-07-20

发明(设计)人：

任将熊星

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T713 G06T762

代理机构：

苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235

代理人：

沈晓敏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210422
2022-08-12	授权	授权
2021-07-20	公开	公开

共 50 条

[21] 缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884B ,2024-10-25

[22] 缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质 [P].

刘新辉 .

中国专利 :CN113066043A ,2021-07-02

[23] 产品缺陷的检测方法及计算机存储介质 [P].

黄耀 ;

罗百通 ;

朱文斋 ;

徐东东 ;

夏辉 .

中国专利 :CN111640091A ,2020-09-08

[24] 缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884A ,2021-03-23

[25] 缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴雨培 ;

谢阳 .

中国专利 :CN117314895B ,2024-03-12

[26] 缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

杨延竹 ;

彭明 ;

张旭堂 ;

张华 ;

于波 .

中国专利 :CN113628161A ,2021-11-09

[27] 铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

郭敏 .

中国专利 :CN114119466B ,2025-02-11

[28] 缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

孙明珊 ;

暴天鹏 ;

吴立威 .

中国专利 :CN111986174A ,2020-11-24

[29] 产品缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

于瑞涛 ;

高巍 .

中国专利 :CN112712513A ,2021-04-27

[30] 铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

郭敏 .

中国专利 :CN114119466A ,2022-03-01

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