缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010835350.5
申请日
2020-08-17
公开(公告)号
CN111986174A
公开(公告)日
2020-11-24
发明(设计)人
孙明珊 暴天鹏 吴立威
申请人
申请人地址
518054 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06K946 G06K962 G06T710
代理机构
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
熊永强;董文俊
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]   锯齿缺陷检测方法及装置、电子设备、计算机存储介质 [P]. 
陈越 ;
王林芳 ;
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[2]   材料缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
肖云峰 ;
张方醒 ;
季胜强 ;
孙伽略 ;
柏雁捷 ;
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[3]   缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
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[4]   缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
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[5]   缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
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[6]   缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
许文夏 ;
周璐 ;
李晶 .
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[7]   文本检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
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[8]   文本检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
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秦勇 .
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[9]   流量检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
汪俊永 ;
张娇婷 ;
张研 .
中国专利 :CN119652798A ,2025-03-18
[10]   对象检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
张勇 .
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