缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510779968.7

申请日：

2025-06-12

公开(公告)号：

CN120411071A

公开(公告)日：

2025-08-01

发明(设计)人：

徐英杰黄雪峰杨超

申请人：

深圳市信润富联数字科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区清水河街道清水河社区清水河五路10号润启科技大厦2001

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/80 G06V10/82 G06V10/26

代理机构：

深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481

代理人：

李杏娟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250612
2025-08-01	公开	公开

共 50 条

[1] 缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

许文夏 ;

周璐 ;

李晶 .

中国专利 :CN114897806B ,2025-06-06

[2] 缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

许文夏 ;

周璐 ;

李晶 .

中国专利 :CN114897806A ,2022-08-12

[3] 缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

杨顺 .

中国专利 :CN114596242A ,2022-06-07

[4] 缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

徐崚川 .

中国专利 :CN113379680A ,2021-09-10

[5] 检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

沈岗 ;

卢蒙 .

中国专利 :CN118447225A ,2024-08-06

[6] 缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

蔡旗 ;

潘华东 ;

殷俊 ;

高美 ;

李中振 .

中国专利 :CN114219758A ,2022-03-22

[7] 缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

蔡春晖 ;

蔡一峰 .

中国专利 :CN114463282B ,2024-10-22

[8] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

黄建峰 ;

林义闽 ;

易万鑫 ;

廉士国 .

中国专利 :CN114596243A ,2022-06-07

[9] 缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

蔡春晖 ;

蔡一峰 .

中国专利 :CN114463282A ,2022-05-10

[10] 缺陷的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

顾闻 ;

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN115564778A ,2023-01-03

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