缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111315995.7

申请日：

2021-11-08

公开(公告)号：

CN114219758A

公开(公告)日：

2022-03-22

发明(设计)人：

蔡旗潘华东殷俊高美李中振

申请人：

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1187号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T340 G06T762 G06T768 G06V1025 G06V1080

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

何倚雯

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-22	公开	公开
2022-04-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20211108

共 50 条

[1] 缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

徐崚川 .

中国专利 :CN113379680A ,2021-09-10

[2] 缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

许文夏 ;

周璐 ;

李晶 .

中国专利 :CN114897806B ,2025-06-06

[3] 缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

许文夏 ;

周璐 ;

李晶 .

中国专利 :CN114897806A ,2022-08-12

[4] 缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

徐英杰 ;

黄雪峰 ;

杨超 .

中国专利 :CN120411071A ,2025-08-01

[5] 缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

杨顺 .

中国专利 :CN114596242A ,2022-06-07

[6] 缺陷检测方法、设备、系统和计算机可读存储介质 [P].

肖枭 ;

时清凯 ;

周金果 ;

范刚 ;

张川 .

中国专利 :CN109426614A ,2019-03-05

[7] 缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

蔡春晖 ;

蔡一峰 .

中国专利 :CN114463282B ,2024-10-22

[8] 缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

蔡春晖 ;

蔡一峰 .

中国专利 :CN114463282A ,2022-05-10

[9] 轧钢表面缺陷检测方法、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

梁思飞 ;

李媛媛 .

中国专利 :CN119887687A ,2025-04-25

[10] 入侵检测方法和系统、电子设备、计算机可读存储介质 [P].

袁振江 ;

闫子聪 ;

邹芳 ;

费冬 ;

马鑫旺 .

中国专利 :CN114217302A ,2022-03-22

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