缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110538279.9

申请日：

2021-05-18

公开(公告)号：

CN113379680A

公开(公告)日：

2021-09-10

发明(设计)人：

徐崚川

申请人：

申请人地址：

200062 上海市普陀区云岭东路89号2111-L室

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06K962 G06T7194 G06T790

代理机构：

北京开阳星知识产权代理有限公司 11710

代理人：

祝乐芳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-10	公开	公开
2021-09-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210518

共 50 条

[1] 缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

蔡旗 ;

潘华东 ;

殷俊 ;

高美 ;

李中振 .

中国专利 :CN114219758A ,2022-03-22

[2] 缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

许文夏 ;

周璐 ;

李晶 .

中国专利 :CN114897806B ,2025-06-06

[3] 缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

许文夏 ;

周璐 ;

李晶 .

中国专利 :CN114897806A ,2022-08-12

[4] 缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

徐英杰 ;

黄雪峰 ;

杨超 .

中国专利 :CN120411071A ,2025-08-01

[5] 缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

杨顺 .

中国专利 :CN114596242A ,2022-06-07

[6] 缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

蔡春晖 ;

蔡一峰 .

中国专利 :CN114463282B ,2024-10-22

[7] 缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

蔡春晖 ;

蔡一峰 .

中国专利 :CN114463282A ,2022-05-10

[8] 目标检测方法、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

毛礼建 ;

李远沐 .

中国专利 :CN115100101A ,2022-09-23

[9] 目标检测方法、装置、计算机可读存储介质和电子设备 [P].

翁立宇 .

中国专利 :CN110909668A ,2020-03-24

[10] 轧钢表面缺陷检测方法、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

梁思飞 ;

李媛媛 .

中国专利 :CN119887687A ,2025-04-25

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