铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111177666.0

申请日：

2021-10-09

公开(公告)号：

CN114119466B

公开(公告)日：

2025-02-11

发明(设计)人：

郭敏

申请人：

武汉禾富信科技有限公司

申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新四路40号葛洲坝太阳城2栋2层01室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/73 G06V10/56 G06V10/25 G06V10/764

代理机构：

北京恒博知识产权代理有限公司 11528

代理人：

张晓芳

法律状态：

授权

国省代码：

湖北省武汉市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-11	授权	授权

共 50 条

[1] 铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

郭敏 .

中国专利 :CN114119466A ,2022-03-01

[2] 铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

朱开星 ;

彭海林 .

中国专利 :CN119555697A ,2025-03-04

[3] 铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

朱开星 ;

彭海林 .

中国专利 :CN119555697B ,2025-08-08

[4] 钢表面缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

梁思飞 ;

李媛媛 .

中国专利 :CN119887688A ,2025-04-25

[5] 缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111507974A ,2020-08-07

[6] 缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884B ,2024-10-25

[7] 缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884A ,2021-03-23

[8] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

艾立夫 ;

赵东峰 ;

董立超 ;

刘宝山 ;

刘艺 ;

朱春霖 ;

彭旭 .

中国专利 :CN111812105A ,2020-10-23

[9] 表面缺陷检测方法及装置、计算机设备和存储介质 [P].

江志坚 ;

王劦 ;

吴小彬 .

中国专利 :CN117828352A ,2024-04-05

[10] 玻璃表面缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质 [P].

姜枞聪 .

中国专利 :CN111598847A ,2020-08-28

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