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开口圆环工件外观缺陷检测方法、系统及计算机存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110437890.2
申请日：
2021-04-22
公开(公告)号：
CN113139943B
公开(公告)日：
2021-07-20
发明(设计)人：
任将 熊星
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号
IPC主分类号：
G06T700
IPC分类号：
G06T711 G06T713 G06T762
代理机构：
苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235
代理人：
沈晓敏
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-08-06 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210422
2022-08-12 授权 授权
2021-07-20 公开 公开
共 50 条
[41]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
莫宇 ;
金韵 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN119515761A ,2025-02-25
[42]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张建书 ;
何水源 ;
贺继石 ;
刘枢 ;
沈小勇 ;
吕江波 .
中国专利 :CN117726579A ,2024-03-19
[43]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
周震东 ;
金韵 ;
袁磊 ;
莫宇 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118799248A ,2024-10-18
[44]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张才明 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN119399183A ,2025-02-07
[45]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
柳锐 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 ;
易振彧 ;
莫宇 .
中国专利 :CN117011304B ,2024-03-26
[46]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈鹏光 ;
冯嘉佩 ;
徐开元 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118071719A ,2024-05-24
[47]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
何水源 ;
李睿宇 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN117635509A ,2024-03-01
[48]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
易振彧 ;
潘阳山 ;
蔡淳昊 ;
夏舟 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118608521B ,2024-11-26
[49]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
易振彧 ;
潘阳山 ;
蔡淳昊 ;
夏舟 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118608521A ,2024-09-06
[50]   屏幕不良检测方法、系统及计算机存储介质 [P]. 
丁晓帅 .
中国专利 :CN113269762A ,2021-08-17
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