缺陷检测方法和计算机设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311864558.X

申请日：

2023-12-29

公开(公告)号：

CN117808779A

公开(公告)日：

2024-04-02

发明(设计)人：

张进兴杨英豪

申请人：

凌云光技术股份有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/60

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

王瀚

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-02	公开	公开
2024-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231229

共 50 条

[1] 缺陷检测方法和计算机设备 [P].

张旭 ;

朱龙 ;

孙天齐 .

中国专利 :CN117830257A ,2024-04-05

[2] 缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

王通 ;

李仁锋 ;

曹双林 ;

黄建新 .

中国专利 :CN120101725A ,2025-06-06

[3] 电池片的缺陷检测方法和计算机设备 [P].

朱龙 ;

张潇 ;

吕建明 .

中国专利 :CN117911351A ,2024-04-19

[4] 坩埚缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

傅林坚 ;

刘华 ;

曾若琪 .

中国专利 :CN119251210A ,2025-01-03

[5] 证件缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

杨向锋 ;

连宏钢 ;

董怀禄 ;

鲍钧 ;

周海涛 ;

姜永胜 .

中国专利 :CN120451133A ,2025-08-08

[6] 图像处理方法、缺陷检测方法和计算机设备 [P].

伍锐斌 ;

张文涛 ;

梁业成 .

中国专利 :CN120182198A ,2025-06-20

[7] 缺陷检测方法、装置、模型构造方法和计算机设备 [P].

何良雨 ;

崔健 ;

刘彤 .

中国专利 :CN112598657B ,2021-04-02

[8] 目标缺陷检测方法和检测装置、计算机设备、存储介质 [P].

王永吉 ;

杨延竹 ;

张华 ;

于波 .

中国专利 :CN114882002A ,2022-08-09

[9] 检测装置、缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

高金伙 ;

李海波 ;

张凤琳 ;

于广东 ;

李后勇 ;

罗宇 .

中国专利 :CN118067747A ,2024-05-24

[10] 目标缺陷检测方法和检测装置、计算机设备、存储介质 [P].

王永吉 ;

杨延竹 ;

张华 ;

于波 .

中国专利 :CN114882002B ,2025-01-10

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