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坩埚缺陷检测方法、装置和计算机设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411746307.6
申请日：
2024-12-02
公开(公告)号：
CN119251210A
公开(公告)日：
2025-01-03
发明(设计)人：
傅林坚 刘华 曾若琪
申请人：
浙江求是半导体设备有限公司 浙江晶盛机电股份有限公司
申请人地址：
311100 浙江省杭州市临平区临平街道顺达路500号1幢102室
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/136 G06T7/11 G06N3/0464 G06N3/045
代理机构：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250
代理人：
金佳颖
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
浙江省 绍兴市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-01-21 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241202
2025-01-03 公开 公开
共 50 条
[1]   缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P]. 
王通 ;
李仁锋 ;
曹双林 ;
黄建新 .
中国专利 :CN120101725A ,2025-06-06
[2]   缺陷检测方法和计算机设备 [P]. 
张进兴 ;
杨英豪 .
中国专利 :CN117808779A ,2024-04-02
[3]   缺陷检测方法和计算机设备 [P]. 
张旭 ;
朱龙 ;
孙天齐 .
中国专利 :CN117830257A ,2024-04-05
[4]   证件缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P]. 
杨向锋 ;
连宏钢 ;
董怀禄 ;
鲍钧 ;
周海涛 ;
姜永胜 .
中国专利 :CN120451133A ,2025-08-08
[5]   检测装置、缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
高金伙 ;
李海波 ;
张凤琳 ;
于广东 ;
李后勇 ;
罗宇 .
中国专利 :CN118067747A ,2024-05-24
[6]   检测装置、缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
高金伙 ;
李海波 ;
张凤琳 ;
于广东 ;
李后勇 ;
罗宇 .
中国专利 :CN115508389A ,2022-12-23
[7]   缺陷检测方法、装置、模型构造方法和计算机设备 [P]. 
何良雨 ;
崔健 ;
刘彤 .
中国专利 :CN112598657B ,2021-04-02
[8]   图像处理方法、缺陷检测方法和计算机设备 [P]. 
伍锐斌 ;
张文涛 ;
梁业成 .
中国专利 :CN120182198A ,2025-06-20
[9]   目标缺陷检测方法和检测装置、计算机设备、存储介质 [P]. 
王永吉 ;
杨延竹 ;
张华 ;
于波 .
中国专利 :CN114882002A ,2022-08-09
[10]   目标缺陷检测方法和检测装置、计算机设备、存储介质 [P]. 
王永吉 ;
杨延竹 ;
张华 ;
于波 .
中国专利 :CN114882002B ,2025-01-10
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