图像处理方法、缺陷检测方法和计算机设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510239272.5

申请日：

2025-02-28

公开(公告)号：

CN120182198A

公开(公告)日：

2025-06-20

发明(设计)人：

伍锐斌张文涛梁业成

申请人：

联想（北京）有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地西路6号2幢2层201-H2-6

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/12 G06T7/136 G06T7/90

代理机构：

北京金信知识产权代理有限公司 11225

代理人：

刘聪超

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-20	公开	公开
2025-07-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250228

共 50 条

[1] 缺陷检测方法和计算机设备 [P].

张进兴 ;

杨英豪 .

中国专利 :CN117808779A ,2024-04-02

[2] 缺陷检测方法和计算机设备 [P].

张旭 ;

朱龙 ;

孙天齐 .

中国专利 :CN117830257A ,2024-04-05

[3] 图像预处理方法和缺陷检测方法、装置及计算机设备 [P].

许志松 ;

于虹 ;

周帅 .

中国专利 :CN115496890A ,2022-12-20

[4] 缺陷图像处理方法、装置及计算机设备 [P].

孔令其 ;

贾永磊 ;

李国军 .

中国专利 :CN120219562A ,2025-06-27

[5] 缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

王通 ;

李仁锋 ;

曹双林 ;

黄建新 .

中国专利 :CN120101725A ,2025-06-06

[6] 图像缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

肖仁睿 ;

陈科 ;

向坤 ;

苏凌 ;

仇正兰 ;

王潇然 .

中国专利 :CN119494965A ,2025-02-21

[7] 坩埚缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

傅林坚 ;

刘华 ;

曾若琪 .

中国专利 :CN119251210A ,2025-01-03

[8] 证件缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

杨向锋 ;

连宏钢 ;

董怀禄 ;

鲍钧 ;

周海涛 ;

姜永胜 .

中国专利 :CN120451133A ,2025-08-08

[9] 缺陷检测方法、装置、模型构造方法和计算机设备 [P].

何良雨 ;

崔健 ;

刘彤 .

中国专利 :CN112598657B ,2021-04-02

[10] 电池片的缺陷检测方法和计算机设备 [P].

朱龙 ;

张潇 ;

吕建明 .

中国专利 :CN117911351A ,2024-04-19

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