缺陷检测方法和计算机设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311864558.X

申请日：

2023-12-29

公开(公告)号：

CN117808779A

公开(公告)日：

2024-04-02

发明(设计)人：

张进兴杨英豪

申请人：

凌云光技术股份有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/60

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

王瀚

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-02	公开	公开
2024-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231229

共 50 条

[41] 高亮面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

葛俊辉 ;

丁凡 ;

沈小龙 ;

邓文平 .

中国专利 :CN117522850A ,2024-02-06

[42] 滚子表面缺陷检测方法、计算机设备和存储介质 [P].

马跃洋 ;

尹青青 ;

刘丙才 ;

朱学亮 ;

王红军 ;

田爱玲 .

中国专利 :CN119784709A ,2025-04-08

[43] 电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

赵玥 ;

罗军 ;

吕宏峰 ;

夏皓 ;

王小强 .

中国专利 :CN114331985A ,2022-04-12

[44] 缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和可读存储介质 [P].

刘学文 ;

葛俊辉 ;

杨东 ;

沈小龙 ;

张兆威 .

中国专利 :CN119006464B ,2025-01-24

[45] PCB板缺陷检测方法、装置、存储介质和计算机设备 [P].

吕杰 ;

张晖 ;

万斌 .

中国专利 :CN118037663A ,2024-05-14

[46] 缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和可读存储介质 [P].

刘学文 ;

葛俊辉 ;

杨东 ;

沈小龙 ;

张兆威 .

中国专利 :CN119006464A ,2024-11-22

[47] 电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

赵玥 ;

罗军 ;

吕宏峰 ;

夏皓 ;

王小强 .

中国专利 :CN114331985B ,2025-06-20

[48] 缺陷检测方法及系统、存储介质、计算机设备 [P].

张武杰 .

中国专利 :CN119985489A ,2025-05-13

[49] 深埋长隧洞缺陷检测方法及计算机设备 [P].

聂强 ;

彭望 ;

来记桃 ;

冯艺 ;

岳攀 ;

何长青 ;

谭海涛 ;

李乾德 ;

邵鹏哲 ;

张阳 .

中国专利 :CN119379608A ,2025-01-28

[50] 缺陷检测方法、装置、计算机设备、可读存储介质 [P].

王彬 ;

王玉栋 ;

黄益民 .

中国专利 :CN119810024A ,2025-04-11

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