电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111575064.0

申请日：

2021-12-21

公开(公告)号：

CN114331985B

公开(公告)日：

2025-06-20

发明(设计)人：

赵玥罗军吕宏峰夏皓王小强

申请人：

中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

申请人地址：

511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/08 G06V10/762

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

虞凌霄

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-20	授权	授权

共 50 条

[41] 元器件失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王弘剑 ;

林琦越 ;

黄文锋 ;

徐军军 ;

蔡伟 ;

李伟 ;

石高明 ;

周鑫鑫 .

中国专利 :CN118643673A ,2024-09-13

[42] 检测装置、缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

高金伙 ;

李海波 ;

张凤琳 ;

于广东 ;

李后勇 ;

罗宇 .

中国专利 :CN115508389A ,2022-12-23

[43] 元器件结构分析方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

胡凛 ;

胡湘洪 ;

李伟 .

中国专利 :CN118194583A ,2024-06-14

[44] 元器件可靠性确定方法、装置和计算机设备 [P].

汪健 ;

邓传锦 ;

邓锐 ;

陈锴彬 ;

蒋坤 ;

付浩熹 ;

高翔 .

中国专利 :CN118313208A ,2024-07-09

[45] 元器件寿命评估方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

杨威斌 ;

毕建华 ;

孙长安 ;

罗春风 ;

吴玮 .

中国专利 :CN118350180A ,2024-07-16

[46] 缺陷检测方法、装置、模型构造方法和计算机设备 [P].

何良雨 ;

崔健 ;

刘彤 .

中国专利 :CN112598657B ,2021-04-02

[47] 坩埚缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

傅林坚 ;

刘华 ;

曾若琪 .

中国专利 :CN119251210A ,2025-01-03

[48] 证件缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

杨向锋 ;

连宏钢 ;

董怀禄 ;

鲍钧 ;

周海涛 ;

姜永胜 .

中国专利 :CN120451133A ,2025-08-08

[49] 电子元器件分类画像构建方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

胡宁 ;

于迪 ;

王浩 ;

郑丽香 ;

吴琴 .

中国专利 :CN118535734A ,2024-08-23

[50] 目标缺陷检测方法和检测装置、计算机设备、存储介质 [P].

王永吉 ;

杨延竹 ;

张华 ;

于波 .

中国专利 :CN114882002A ,2022-08-09

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