电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111575064.0

申请日：

2021-12-21

公开(公告)号：

CN114331985B

公开(公告)日：

2025-06-20

发明(设计)人：

赵玥罗军吕宏峰夏皓王小强

申请人：

中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

申请人地址：

511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/08 G06V10/762

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

虞凌霄

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-20	授权	授权

共 50 条

[1] 电子元器件划痕缺陷检测方法、装置和计算机设备 [P].

赵玥 ;

罗军 ;

吕宏峰 ;

夏皓 ;

王小强 .

中国专利 :CN114331985A ,2022-04-12

[2] 电子元器件的划痕检测方法、装置及计算机设备 [P].

赵玥 ;

罗军 ;

王小强 ;

吕宏峰 ;

夏皓 .

中国专利 :CN113781406B ,2024-04-02

[3] 电子元器件的划痕检测方法、装置及计算机设备 [P].

赵玥 ;

罗军 ;

王小强 ;

吕宏峰 ;

夏皓 .

中国专利 :CN113781406A ,2021-12-10

[4] 器件缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

黄权 ;

孙宸 ;

武慧薇 ;

陈义强 ;

路国光 .

中国专利 :CN117575995A ,2024-02-20

[5] 电子元器件的种类识别方法、装置、计算机设备 [P].

赵耀 .

中国专利 :CN117928764A ,2024-04-26

[6] 划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

赵玥 ;

罗军 ;

王小强 ;

邱宝军 ;

罗道军 .

中国专利 :CN114331983A ,2022-04-12

[7] 划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

赵玥 ;

罗军 ;

王小强 ;

邱宝军 ;

罗道军 .

中国专利 :CN114331983B ,2025-06-20

[8] 芯片表面划痕缺陷的检测方法、装置和计算机设备 [P].

赵玥 ;

罗军 ;

王小强 ;

罗道军 ;

唐锐 .

中国专利 :CN113781402A ,2021-12-10

[9] 芯片表面划痕缺陷的检测方法、装置和计算机设备 [P].

赵玥 ;

罗军 ;

王小强 ;

罗道军 ;

唐锐 .

中国专利 :CN113781402B ,2024-03-26

[10] 电子元器件检查方法、装置、计算机设备和可读存储介质 [P].

朱思洪 .

中国专利 :CN113779929A ,2021-12-10

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