一种基于Mueller矩阵成像的检测系统

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专利类型
发明
申请号
CN202010916040.6
申请日
2020-09-03
公开(公告)号
CN111948149A
公开(公告)日
2020-11-17
发明(设计)人
田博文 张明磊 闫鹏宇 云宇
申请人
申请人地址
100000 北京市海淀区丰豪东路1号
IPC主分类号
G01N2121
IPC分类号
代理机构
四川省成都市天策商标专利事务所 51213
代理人
赵以鹏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]   一种基于Mueller矩阵成像的检测系统 [P]. 
田博文 ;
张明磊 ;
闫鹏宇 ;
云宇 .
中国专利 :CN212540113U ,2021-02-12
[2]   一种透射反射Mueller矩阵偏振显微成像系统 [P]. 
王春华 ;
刘刚 ;
李力 ;
张亚丽 ;
赵静静 ;
黄宁新 .
中国专利 :CN110132852A ,2019-08-16
[3]   一种弱光场样品Mueller矩阵快速检测方法及检测系统 [P]. 
李艳秋 ;
宁天磊 .
中国专利 :CN113538381A ,2021-10-22
[4]   一种弱光场样品Mueller矩阵快速检测方法及检测系统 [P]. 
李艳秋 ;
宁天磊 .
中国专利 :CN113538381B ,2024-06-18
[5]   一种基于Mueller矩阵分析的偏振BRDF建模方法 [P]. 
李艳辉 ;
杨鹏飞 ;
邹楹 .
中国专利 :CN118671963A ,2024-09-20
[6]   一种Mueller矩阵光谱的测量系统及方法 [P]. 
权乃承 .
中国专利 :CN110261317A ,2019-09-20
[7]   Mueller矩阵成像的动态范围扩展装置与方法 [P]. 
陈庆光 .
中国专利 :CN105872403A ,2016-08-17
[8]   一种基于矩阵分解的微波热成像无损检测系统 [P]. 
张宏 ;
吴瑞坤 ;
徐鲁雄 ;
严明忠 ;
张荣刚 ;
陈国钦 ;
李金赐 .
中国专利 :CN207798707U ,2018-08-31
[9]   一种基于X射线数字成像的电缆检测系统 [P]. 
刘刚 ;
李青 ;
李韶 ;
卢晓玲 .
中国专利 :CN108535291A ,2018-09-14
[10]   一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法 [P]. 
虞益挺 ;
裘晔 ;
周俊焯 ;
厉奔 ;
郝佳 ;
姚鑫玲 .
中国专利 :CN119915825A ,2025-05-02