一种弱光场样品Mueller矩阵快速检测方法及检测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110808520.5

申请日：

2021-07-16

公开(公告)号：

CN113538381B

公开(公告)日：

2024-06-18

发明(设计)人：

李艳秋宁天磊

申请人：

北京理工大学

申请人地址：

100081 北京市海淀区中关村南大街5号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/80 G06T5/20 G06T5/70 G06T3/4038 G06F17/16 G01N21/21

代理机构：

北京理工大学专利中心 11120

代理人：

刘芳

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-18	授权	授权

共 50 条

[1] 一种弱光场样品Mueller矩阵快速检测方法及检测系统 [P].

李艳秋 ;

宁天磊 .

中国专利 :CN113538381A ,2021-10-22

[2] 一种基于Mueller矩阵成像的检测系统 [P].

田博文 ;

张明磊 ;

闫鹏宇 ;

云宇 .

中国专利 :CN111948149A ,2020-11-17

[3] 一种基于Mueller矩阵成像的检测系统 [P].

田博文 ;

张明磊 ;

闫鹏宇 ;

云宇 .

中国专利 :CN212540113U ,2021-02-12

[4] 组织样品快速检测系统、检测方法及应用 [P].

康裕建 ;

蒙霞 ;

丁雪琴 .

中国专利 :CN114279795A ,2022-04-05

[5] 组织样品快速检测系统、检测方法及应用 [P].

康裕建 ;

蒙霞 ;

丁雪琴 .

中国专利 :CN114279795B ,2024-06-25

[6] 一种AOI快速检测方法及快速检测系统 [P].

王平 ;

李康民 ;

张志超 ;

陈存东 ;

罗洪 ;

何欢 ;

陈静华 .

中国专利 :CN112669272A ,2021-04-16

[7] 一种AOI快速检测方法及快速检测系统 [P].

王平 ;

李康民 ;

张志超 ;

陈存东 ;

罗洪 ;

何欢 ;

陈静华 .

中国专利 :CN112669272B ,2024-09-06

[8] 一种故障快速检测方法及检测系统 [P].

林琦 ;

高胜银 ;

李东奇 ;

杨涛 .

中国专利 :CN107390069A ,2017-11-24

[9] 一种基于矩阵恢复的运动目标快速检测方法及系统 [P].

闫贺 ;

李飞 ;

邓云凯 ;

王宇 .

中国专利 :CN103513234B ,2014-01-15

[10] 一种设备位移快速检测方法及检测系统 [P].

何睿清 ;

张健 ;

覃翠 ;

余辉龙 ;

赵静 ;

魏峘 ;

包永强 ;

张瑾 .

中国专利 :CN111856480A ,2020-10-30

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