一种弱光场样品Mueller矩阵快速检测方法及检测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110808520.5

申请日：

2021-07-16

公开(公告)号：

CN113538381B

公开(公告)日：

2024-06-18

发明(设计)人：

李艳秋宁天磊

申请人：

北京理工大学

申请人地址：

100081 北京市海淀区中关村南大街5号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/80 G06T5/20 G06T5/70 G06T3/4038 G06F17/16 G01N21/21

代理机构：

北京理工大学专利中心 11120

代理人：

刘芳

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-18	授权	授权

共 50 条

[41] 分子信息快速检测方法及系统 [P].

赵正泽 ;

黄哲华 ;

王哲成 ;

孔飞 ;

石发展 ;

杜江峰 .

中国专利 :CN118032733A ,2024-05-14

[42] 分子信息快速检测方法及系统 [P].

赵正泽 ;

黄哲华 ;

王哲成 ;

孔飞 ;

石发展 ;

杜江峰 .

中国专利 :CN118032733B ,2024-08-09

[43] 一种基于视觉检测的电机生产线快速检测方法及检测系统 [P].

李友丹 ;

诸钦泉 ;

余昌郡 ;

梅利峰 .

中国专利 :CN118976710A ,2024-11-19

[44] 一种基于视觉检测的电机生产线快速检测方法及检测系统 [P].

李友丹 ;

诸钦泉 ;

余昌郡 ;

梅利峰 .

中国专利 :CN118976710B ,2025-01-24

[45] 一种复杂样品中细菌的快速检测方法 [P].

林星宇 ;

罗自生 ;

李莉 .

中国专利 :CN112410405B ,2021-02-26

[46] 一种矩阵电机的位置检测方法及位置冗余检测系统 [P].

杨东旭 ;

贾少锋 ;

孙鹏程 ;

梁得亮 .

中国专利 :CN120601791A ,2025-09-05

[47] 样品制备方法、样品检测方法及样品检测系统 [P].

刘婧 ;

姜有东 .

中国专利 :CN113916919A ,2022-01-11

[48] 弱光光谱检测芯片及弱光光谱检测方法 [P].

黄翊东 ;

崔开宇 ;

刘仿 ;

冯雪 ;

张巍 .

中国专利 :CN111854949A ,2020-10-30

[49] 一种芯片快速检测设备及快速检测方法 [P].

王维佳 ;

王宝利 .

中国专利 :CN112833946B ,2021-05-25

[50] 一种电动汽车动力电池快速检测方法及检测系统 [P].

王正权 .

中国专利 :CN109765494A ,2019-05-17

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