一种Mueller矩阵光谱的测量系统及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910522725.X
申请日
2019-06-17
公开(公告)号
CN110261317A
公开(公告)日
2019-09-20
发明(设计)人
权乃承
申请人
申请人地址
710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号
IPC主分类号
G01N2121
IPC分类号
代理机构
西安弘理专利事务所 61214
代理人
杜娟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]   实时测量Mueller矩阵光谱的方法 [P]. 
权乃承 .
中国专利 :CN110567883B ,2019-12-13
[2]   一种Mueller矩阵光谱的测量系统及其测量方法 [P]. 
权乃承 .
中国专利 :CN110579443B ,2019-12-17
[3]   基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置及测量方法 [P]. 
权乃承 .
中国专利 :CN110261319B ,2019-09-20
[4]   一种Mueller矩阵的自校准测量方法 [P]. 
侯俊峰 .
中国专利 :CN103837476A ,2014-06-04
[5]   一种穆勒矩阵测量系统及方法 [P]. 
巨海娟 ;
梁健 ;
任立勇 ;
屈恩世 ;
白兆峰 ;
胡宝文 .
中国专利 :CN108918425A ,2018-11-30
[6]   Mueller矩阵图像的获取系统及获取方法 [P]. 
权乃承 .
中国专利 :CN114112929B ,2024-09-03
[7]   Mueller矩阵图像的获取系统及获取方法 [P]. 
权乃承 .
中国专利 :CN114112929A ,2022-03-01
[8]   一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法 [P]. 
虞益挺 ;
裘晔 ;
周俊焯 ;
厉奔 ;
郝佳 ;
姚鑫玲 .
中国专利 :CN119915825A ,2025-05-02
[9]   一种基于旋光纤的光谱测量系统 [P]. 
赵斌 ;
於得奋 ;
吴鹏飞 ;
魏成祥 .
中国专利 :CN113739917B ,2021-12-03
[10]   一种基于Mueller矩阵成像的检测系统 [P]. 
田博文 ;
张明磊 ;
闫鹏宇 ;
云宇 .
中国专利 :CN111948149A ,2020-11-17