一种基于Mueller矩阵分析的偏振BRDF建模方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410683751.1
申请日
2024-05-30
公开(公告)号
CN118671963A
公开(公告)日
2024-09-20
发明(设计)人
李艳辉 杨鹏飞 邹楹
申请人
西安电子科技大学
申请人地址
710071 陕西省西安市太白南路2号
IPC主分类号
G02B27/00
IPC分类号
G01N21/21 G01N21/55 G02B27/28 G16C60/00
代理机构
西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290
代理人
郑娟英
法律状态
实质审查的生效
国省代码
陕西省 西安市
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共 50 条
[1]   一种基于Mueller矩阵的镀膜后光学镜头偏振特性分析方法 [P]. 
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[2]   一种基于Mueller矩阵成像的检测系统 [P]. 
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张明磊 ;
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[3]   一种基于Mueller矩阵成像的检测系统 [P]. 
田博文 ;
张明磊 ;
闫鹏宇 ;
云宇 .
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[4]   一种透射反射Mueller矩阵偏振显微成像系统 [P]. 
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吴蓓芬 ;
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[10]   一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法 [P]. 
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厉奔 ;
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