外差一维光栅位移测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011287160.0

申请日：

2020-11-17

公开(公告)号：

CN112504131B

公开(公告)日：

2021-03-16

发明(设计)人：

吉日嘎兰图尹云飞李文昊刘兆武刘林白宇

申请人：

申请人地址：

130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

代理机构：

长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218

代理人：

高一明;郭婷

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-28	授权	授权
2021-04-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20201117
2021-03-16	公开	公开

共 50 条

[31] 一种激光三维位移测量装置 [P].

张青 ;

韩永温 ;

史彦新 ;

孟宪玮 ;

曾克 ;

张晓飞 ;

郝文杰 ;

吕中虎 ;

蒿书利 .

中国专利 :CN103727882A ,2014-04-16

[32] 一种二自由度外差光栅干涉仪位移测量系统及方法 [P].

朱煜 ;

张鸣 ;

兰斌 ;

王磊杰 ;

成荣 ;

杨开明 ;

鲁森 ;

丁思琪 ;

徐登峰 ;

胡金春 ;

尹文生 .

中国专利 :CN105823422B ,2018-08-28

[33] 一种基于外差干涉和二次衍射效应的光栅位移测量系统 [P].

李金龙 ;

胡松 ;

赵立新 ;

蒋薇 .

中国专利 :CN104634254A ,2015-05-20

[34] 一种基于自溯源光栅的外差式精密位移测量系统 [P].

程鑫彬 ;

邓晓 ;

薛栋柏 ;

林子超 ;

顿雄 ;

何春伶 ;

解钰莹 ;

李同保 .

中国专利 :CN119124001B ,2025-05-23

[35] 位移测量装置及位移测量方法 [P].

马海祥 ;

李小龙 ;

冯甫 ;

袁小聪 .

中国专利 :CN119618083B ,2025-04-04

[36] 位移测量装置及位移测量方法 [P].

马海祥 ;

李小龙 ;

冯甫 ;

袁小聪 .

中国专利 :CN119618083A ,2025-03-14

[37] 一种基于自溯源光栅的外差式精密位移测量系统 [P].

程鑫彬 ;

邓晓 ;

薛栋柏 ;

林子超 ;

顿雄 ;

何春伶 ;

解钰莹 ;

李同保 .

中国专利 :CN119124001A ,2024-12-13

[38] 一种基于光栅投影识别的二维平面位移测量装置 [P].

于海 ;

万秋华 ;

赵长海 ;

杜颖财 .

中国专利 :CN112113507B ,2020-12-22

[39] 一种角度补偿式激光外差干涉位移测量装置 [P].

张恩政 ;

陈本永 .

中国专利 :CN207180607U ,2018-04-03

[40] 一种新型光栅尺位移测量装置 [P].

马向红 ;

李世光 ;

宗明成 ;

孟璐璐 ;

谢冬冬 ;

武志鹏 .

中国专利 :CN110926340A ,2020-03-27

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