缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510765872.5

申请日：

2025-06-10

公开(公告)号：

CN120635033A

公开(公告)日：

2025-09-12

发明(设计)人：

陈一宁曾立超高大为

申请人：

浙江创芯集成电路有限公司

申请人地址：

311200 浙江省杭州市萧山区宁围街道平澜路2118号浙江大学杭州国际科创中心水博园区11幢4层-5层（自主申报）

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/12 G06V10/26 G06V10/30 G06V10/54 G06V10/56 G06V10/764 G06V10/80 G06V10/82 G06N3/045 G06N3/0464 G06N3/08 G01N21/95 G01N21/88 G01N21/01

代理机构：

上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327

代理人：

潘彦君

法律状态：

公开

国省代码：

浙江省杭州市

引用

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共 50 条

[21] 图像缺陷的检测方法、装置、电子设备、存储介质及产品 [P].

肖慧慧 ;

聂磊 ;

邹建法 ;

黄锋 .

中国专利 :CN112581463B ,2024-02-27

[22] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宗泽亮 ;

刘华凯 ;

吴佳飞 .

中国专利 :CN114841946A ,2022-08-02

[23] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[24] 缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

[25] 缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

刘尚知 ;

胡鸿珂 ;

郝伟 ;

余映天 ;

赵洋 ;

常酉泉 ;

方乐缘 ;

杨震 ;

颜志 ;

李晨妍 ;

曾欣 .

中国专利 :CN120374554A ,2025-07-25

[26] 缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张立波 .

中国专利 :CN118154498A ,2024-06-07

[27] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[28] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118505654A ,2024-08-16

[29] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄炜昭 ;

陈龙 ;

谢欢欢 ;

辛拓 ;

汪鹏 ;

余广译 ;

蒋立斌 ;

张成巍 ;

佘楚云 ;

林泽伟 .

中国专利 :CN120257018A ,2025-07-04

[30] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郭旭龙 ;

张武杰 .

中国专利 :CN118154556A ,2024-06-07

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-12	公开	公开