缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510389812.8

申请日：

2025-03-28

公开(公告)号：

CN120257018A

公开(公告)日：

2025-07-04

发明(设计)人：

黄炜昭陈龙谢欢欢辛拓汪鹏余广译蒋立斌张成巍佘楚云林泽伟

申请人：

深圳供电局有限公司

申请人地址：

518001 广东省深圳市罗湖区深南东路4020号电力调度通信大楼

IPC主分类号：

G06F18/24

IPC分类号：

G06F18/15 G06F18/25 G06F18/213 G06F18/214

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

郄金凤

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 18/24申请日:20250328
2025-07-04	公开	公开

共 50 条

[1] 缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

沈琦 ;

暴天鹏 ;

吴立威 .

中国专利 :CN114240882A ,2022-03-25

[2] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宗泽亮 ;

刘华凯 ;

吴佳飞 .

中国专利 :CN114841946A ,2022-08-02

[3] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[4] 缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

[5] 缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

刘尚知 ;

胡鸿珂 ;

郝伟 ;

余映天 ;

赵洋 ;

常酉泉 ;

方乐缘 ;

杨震 ;

颜志 ;

李晨妍 ;

曾欣 .

中国专利 :CN120374554A ,2025-07-25

[6] 缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张立波 .

中国专利 :CN118154498A ,2024-06-07

[7] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[8] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118505654A ,2024-08-16

[9] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郭旭龙 ;

张武杰 .

中国专利 :CN118154556A ,2024-06-07

[10] 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘阳兴 ;

郭中原 ;

李培鹏 .

中国专利 :CN113240673B ,2021-08-10

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