星载微波辐射计天线反射器后向漏射测试装置及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202210016083.8
申请日
2022-01-07
公开(公告)号
CN114355038B
公开(公告)日
2025-07-29
发明(设计)人
何嘉恺 徐红新 姜丽菲 周仁杰 叶志彪 陈卫英 邢瑞先 潘莉 苏晟
申请人
上海航天测控通信研究所
申请人地址
201109 上海市闵行区中春路1777号
IPC主分类号
G01R23/165
IPC分类号
代理机构
上海汉声知识产权代理有限公司 31236
代理人
胡晶
法律状态
授权
国省代码
上海市
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共 50 条
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