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星载微波辐射计天线反射器后向漏射测试装置及测试方法
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN202210016083.8
申请日:
2022-01-07
公开(公告)号:
CN114355038B
公开(公告)日:
2025-07-29
发明(设计)人:
何嘉恺
徐红新
姜丽菲
周仁杰
叶志彪
陈卫英
邢瑞先
潘莉
苏晟
申请人:
上海航天测控通信研究所
申请人地址:
201109 上海市闵行区中春路1777号
IPC主分类号:
G01R23/165
IPC分类号:
代理机构:
上海汉声知识产权代理有限公司 31236
代理人:
胡晶
法律状态:
授权
国省代码:
上海市
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2025-07-29 | 授权 | 授权 |