缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411742691.2

申请日：

2024-11-29

公开(公告)号：

CN119624919A

公开(公告)日：

2025-03-14

发明(设计)人：

樊华邓文韬尹芬刘亮昌程熊辉马力杨涛胡得澳刘晓亮孙航

申请人：

国网湖北省电力有限公司仙桃市供电公司三峡大学

申请人地址：

433000 湖北省仙桃市仙桃大道中段68A

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/774 G06V10/44 G06V10/80 G06V10/82 G06N3/0464

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

赖远龙

法律状态：

公开

国省代码：

湖北省宜昌市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-14	公开	公开
2025-04-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241129

共 50 条

[21] 版图缺陷检测方法、设备、存储介质及程序产品 [P].

王宇阳 .

中国专利 :CN119714113A ,2025-03-28

[22] 缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

王凯 ;

陈桂乔 ;

谢皓彬 ;

何坚辉 ;

陈少军 ;

刘建 ;

吴旭东 .

中国专利 :CN118134891A ,2024-06-04

[23] 晶圆缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

陈志科 ;

胡辰 ;

王森 .

中国专利 :CN119904412A ,2025-04-29

[24] 晶圆缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

张保红 .

中国专利 :CN119863466A ,2025-04-22

[25] 晶圆缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

张保红 .

中国专利 :CN119863466B ,2025-06-24

[26] 产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

吕承侃 ;

商秀芹 .

中国专利 :CN114463261A ,2022-05-10

[27] 缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P].

张建伟 ;

王云婷 .

中国专利 :CN120278954A ,2025-07-08

[28] 电力设备缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

谢志成 ;

邓军 ;

王竣 ;

周海滨 ;

潘志城 ;

伍衡 ;

侯明春 ;

庄池杰 ;

吕刚 ;

黄大为 ;

张良 ;

陈伟 ;

项鹏飞 .

中国专利 :CN118690020A ,2024-09-24

[29] 缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

陈一宁 ;

曾立超 ;

高大为 .

中国专利 :CN120635033A ,2025-09-12

[30] 目标检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

温展欧 ;

尹俊平 ;

姚军 .

中国专利 :CN114119961A ,2022-03-01

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