缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510765872.5

申请日：

2025-06-10

公开(公告)号：

CN120635033A

公开(公告)日：

2025-09-12

发明(设计)人：

陈一宁曾立超高大为

申请人：

浙江创芯集成电路有限公司

申请人地址：

311200 浙江省杭州市萧山区宁围街道平澜路2118号浙江大学杭州国际科创中心水博园区11幢4层-5层（自主申报）

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/12 G06V10/26 G06V10/30 G06V10/54 G06V10/56 G06V10/764 G06V10/80 G06V10/82 G06N3/045 G06N3/0464 G06N3/08 G01N21/95 G01N21/88 G01N21/01

代理机构：

上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327

代理人：

潘彦君

法律状态：

公开

国省代码：

浙江省杭州市

引用

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共 50 条

[1] 产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

吕承侃 ;

商秀芹 .

中国专利 :CN114463261A ,2022-05-10

[2] 缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN116245876B ,2024-06-11

[3] 缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

张丽 ;

闫丹 ;

彭传波 ;

马润欣 ;

储秀秀 ;

李栋 ;

孙运达 .

中国专利 :CN119722638A ,2025-03-28

[4] 缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115690101A ,2023-02-03

[5] 缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115690102A ,2023-02-03

[6] 缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN116228746B ,2024-08-23

[7] 单板的缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

王旺 ;

卢一锐 ;

姚富明 ;

任凡 .

中国专利 :CN120253902A ,2025-07-04

[8] 缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质及产品 [P].

宋祥祥 ;

孙军 ;

杨德志 ;

皮富涛 .

中国专利 :CN118552498A ,2024-08-27

[9] 产品缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

刘建烽 ;

秦伟 ;

陈烨 ;

金昆 ;

彭庆 .

中国专利 :CN119180787A ,2024-12-24

[10] 产品缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

冯扬扬 .

中国专利 :CN115641306A ,2023-01-24

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-12	公开	公开