产品缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411562178.5

申请日：

2024-11-01

公开(公告)号：

CN119516261A

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

易振彧潘阳山刘枢吕江波沈小勇

申请人：

深圳思谋信息科技有限公司

申请人地址：

518051 广东省深圳市前海深港合作区南山街道前海大道前海嘉里商务中心四期T2写字楼2201A

IPC主分类号：

G06V10/764

IPC分类号：

G06T7/00

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

虞凌霄

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-25	公开	公开
2025-03-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/764申请日:20241101

共 50 条

[41] 产品检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

邢志广 ;

刘士杰 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119887631A ,2025-04-25

[42] PCB板缺陷检测方法、装置、存储介质和计算机设备 [P].

吕杰 ;

张晖 ;

万斌 .

中国专利 :CN118037663A ,2024-05-14

[43] 铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

朱开星 ;

彭海林 .

中国专利 :CN119555697A ,2025-03-04

[44] 手表组件缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

江家兴 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119810033A ,2025-04-11

[45] 水下大坝缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

于傲 ;

孙勇 ;

张亚平 ;

周登科 .

中国专利 :CN118898657A ,2024-11-05

[46] 外壳污损缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

王祥 ;

武占侠 ;

吴在军 ;

刘国川 ;

张英 .

中国专利 :CN114926675A ,2022-08-19

[47] 铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

朱开星 ;

彭海林 .

中国专利 :CN119555697B ,2025-08-08

[48] 物体色差缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

戴志威 .

中国专利 :CN110930352B ,2024-02-13

[49] 手机玻璃缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

伍济钢 ;

成远 ;

邵俊 ;

赵前程 .

中国专利 :CN112614125A ,2021-04-06

[50] 物体色差缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

戴志威 .

中国专利 :CN110930352A ,2020-03-27

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