产品缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411562178.5

申请日：

2024-11-01

公开(公告)号：

CN119516261A

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

易振彧潘阳山刘枢吕江波沈小勇

申请人：

深圳思谋信息科技有限公司

申请人地址：

518051 广东省深圳市前海深港合作区南山街道前海大道前海嘉里商务中心四期T2写字楼2201A

IPC主分类号：

G06V10/764

IPC分类号：

G06T7/00

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

虞凌霄

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-25	公开	公开
2025-03-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/764申请日:20241101

共 50 条

[21] 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

柳锐 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 ;

易振彧 ;

莫宇 .

中国专利 :CN117011304B ,2024-03-26

[22] 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118071719A ,2024-05-24

[23] 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

何水源 ;

李睿宇 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN117635509A ,2024-03-01

[24] 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

易振彧 ;

潘阳山 ;

蔡淳昊 ;

夏舟 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118608521B ,2024-11-26

[25] 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

易振彧 ;

潘阳山 ;

蔡淳昊 ;

夏舟 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118608521A ,2024-09-06

[26] 缺陷检测方法、装置、存储介质、计算机设备及检测设备 [P].

宋梦琦 ;

罗亨亮 ;

张武杰 .

中国专利 :CN119648634A ,2025-03-18

[27] 点状缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

姚恒志 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 ;

王松 .

中国专利 :CN116645374B ,2024-03-22

[28] 按键缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

郭达 ;

梁华杰 ;

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118918111A ,2024-11-08

[29] 孔缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

柳锐 ;

郑锦鹏 ;

易振彧 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN117593260A ,2024-02-23

[30] 工业缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

张才明 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118446998A ,2024-08-06

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