纠错码编码电路和包括该电路的半导体器件

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311655814.4

申请日：

2023-12-05

公开(公告)号：

CN118779145A

公开(公告)日：

2024-10-15

发明(设计)人：

全基俊朴暻彬孙弘乐梁大烈柳根荣全甫晥黄映竣

申请人：

三星电子株式会社

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

G06F11/10

IPC分类号：

G11C29/42

代理机构：

北京市立方律师事务所 11330

代理人：

李娜

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-15	公开	公开

共 50 条

[41] 半导体器件和包括该半导体器件的半导体封装 [P].

韩承宪 ;

赵允来 ;

白南奎 ;

A·N·张 .

中国专利 :CN110828392A ,2020-02-21

[42] 半导体器件和包括该半导体器件的半导体封装 [P].

李雅凛 ;

梁宇成 ;

具池谋 ;

成锡江 .

韩国专利 :CN118899299A ,2024-11-05

[43] 半导体器件和包括该半导体器件的半导体装置 [P].

山口哲司 ;

长畑和典 ;

三浦利仁 ;

泷本香织 .

中国专利 :CN103972254B ,2014-08-06

[44] 半导体器件和包括该半导体器件的半导体封装 [P].

李瑌真 ;

李钟旼 .

韩国专利 :CN117790471A ,2024-03-29

[45] 测试模式电路及包括该测试模式电路的半导体器件 [P].

金辅谦 ;

辛泰承 .

中国专利 :CN105825895B ,2016-08-03

[46] 半导体电路和半导体器件 [P].

寺岛知秀 .

中国专利 :CN1222038C ,2003-06-25

[47] 半导体器件和电路 [P].

廖忠志 .

中国专利 :CN110970437B ,2020-04-07

[48] 电路和半导体器件 [P].

G·L·托里希 ;

D·珀托 .

中国专利 :CN207765444U ,2018-08-24

[49] 锁存电路和包括锁存电路的半导体器件 [P].

周珉镐 ;

池性洙 ;

金成镐 .

中国专利 :CN104916325A ,2015-09-16

[50] 测试电路、包括测试电路的半导体器件和测试系统 [P].

金东旭 .

中国专利 :CN112435708A ,2021-03-02

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