光源测量装置、光源测量系统及光源测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410527687.8

申请日：

2024-04-29

公开(公告)号：

CN118392306A

公开(公告)日：

2024-07-26

发明(设计)人：

吴贵阳

申请人：

矽电半导体设备（深圳）股份有限公司

申请人地址：

518172 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区

IPC主分类号：

G01J3/28

IPC分类号：

G01J3/02 G01B11/00

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

周翀

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 3/28申请日:20240429
2024-07-26	公开	公开

共 50 条

[1] 光源测量装置及光源测量系统 [P].

吴贵阳 .

中国专利 :CN222978938U ,2025-06-13

[2] 光源测量方法 [P].

柯骏程 .

中国专利 :CN101907511B ,2010-12-08

[3] 建构光源测量对照表的方法、光源测量方法及系统 [P].

王遵义 ;

冯清章 ;

张志交 .

中国专利 :CN101799328B ,2010-08-11

[4] 光源同步方法、延时测量方法以及测量系统 [P].

金王赞 ;

肖龙云 ;

赵蕾 .

中国专利 :CN117768638A ,2024-03-26

[5] 光源装置和测量方法 [P].

徐可欣 ;

深田桂一 .

中国专利 :CN1088835C ,1998-12-09

[6] 光源测量系统 [P].

廖俊杰 .

中国专利 :CN103487236A ,2014-01-01

[7] 光源平行半角的测量装置和光源平行半角的测量方法 [P].

蒋绍毅 ;

霍荣标 ;

阳强 ;

江舒航 .

中国专利 :CN117147104B ,2024-12-27

[8] 标准光源以及测量方法 [P].

大久保和明 .

中国专利 :CN103994874A ,2014-08-20

[9] 背光源亮度均匀性测量装置及测量方法 [P].

薛源 ;

王俊毅 ;

肖韶荣 .

中国专利 :CN103630332A ,2014-03-12

[10] 集成光源测量装置 [P].

金载乙 .

中国专利 :CN101769820A ,2010-07-07

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