光源装置和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN96198037.0

申请日：

1996-10-30

公开(公告)号：

CN1088835C

公开(公告)日：

1998-12-09

发明(设计)人：

徐可欣深田桂一

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01J310

IPC分类号：

代理机构：

永新专利商标代理有限公司

代理人：

邵伟

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1998-12-09	公开	公开
2002-08-07	授权	授权
1998-12-23	实质审查请求的生效	实质审查请求的生效
2012-01-04	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101165547913 IPC(主分类):G01J 3/10 专利号:ZL961980370 申请日:19961030 授权公告日:20020807 终止日期:20101030

共 50 条

[1] 光源测量装置、光源测量系统及光源测量方法 [P].

吴贵阳 .

中国专利 :CN118392306A ,2024-07-26

[2] 光源测量方法 [P].

柯骏程 .

中国专利 :CN101907511B ,2010-12-08

[3] 光源平行半角的测量装置和光源平行半角的测量方法 [P].

蒋绍毅 ;

霍荣标 ;

阳强 ;

江舒航 .

中国专利 :CN117147104B ,2024-12-27

[4] 变光源阴影莫尔测量方法及其装置 [P].

赵宏 ;

李根乾 ;

陈文艺 ;

王昭 ;

宋元鹤 ;

谭玉山 .

中国专利 :CN1122189C ,1999-02-03

[5] 测量装置和测量方法 [P].

森広宣 ;

塩野忠久 ;

迹边好寿 .

日本专利 :CN118259057A ,2024-06-28

[6] 测量装置和测量方法 [P].

樋口诚 ;

源田弘长 ;

滨田龙也 ;

江崎龙洋 .

中国专利 :CN115004006A ,2022-09-02

[7] 测量装置和测量方法 [P].

铃木一隆 ;

松井克宜 ;

丰田晴义 ;

宅见宗则 ;

袴田直俊 .

中国专利 :CN105792730A ,2016-07-20

[8] 测量装置和测量方法 [P].

川西光宏 ;

石田祐一 ;

杉山太喜 ;

中尾道子 ;

宫原和彦 ;

山野谅太 .

日本专利 :CN119053851A ,2024-11-29

[9] 测量装置和测量方法 [P].

托马斯·阿尔伯 ;

约阿希姆·阿尔贝特 ;

拉尔夫·施托伊尔瓦尔德 ;

迈克尔·汉克 ;

安哥拉·奥比施 .

中国专利 :CN107085117B ,2017-08-22

[10] 测量装置和测量方法 [P].

小松崎晋路 ;

铃木义将 ;

高桥知隆 .

中国专利 :CN114076950A ,2022-02-22

← 1 2 3 4 5 →