光源测量装置、光源测量系统及光源测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410527687.8

申请日：

2024-04-29

公开(公告)号：

CN118392306A

公开(公告)日：

2024-07-26

发明(设计)人：

吴贵阳

申请人：

矽电半导体设备（深圳）股份有限公司

申请人地址：

518172 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区

IPC主分类号：

G01J3/28

IPC分类号：

G01J3/02 G01B11/00

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

周翀

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 3/28申请日:20240429
2024-07-26	公开	公开

共 50 条

[41] 测量方法及测量系统 [P].

刘海珂 ;

曹君 ;

朴凯 ;

张亚军 ;

张永胜 ;

路宏杰 ;

肖兰 ;

夏君 .

中国专利 :CN120489068A ,2025-08-15

[42] 测量容器、测量系统及测量方法 [P].

井上胜 ;

大薮范昭 .

中国专利 :CN111727370A ,2020-09-29

[43] 双光源微小位移的测量方法 [P].

王旗 ;

李骁恒 ;

张文涛 ;

胡广兴 ;

郝爽 .

中国专利 :CN110864628B ,2020-03-06

[44] 变光源阴影莫尔测量方法及其装置 [P].

赵宏 ;

李根乾 ;

陈文艺 ;

王昭 ;

宋元鹤 ;

谭玉山 .

中国专利 :CN1122189C ,1999-02-03

[45] 视觉测量方法及视觉测量系统 [P].

刘海珂 ;

张亚军 ;

任建磊 ;

王宝迪 ;

张永胜 ;

路宏杰 ;

肖兰 ;

夏君 .

中国专利 :CN120576661A ,2025-09-02

[46] 移位测量装置、测量系统及移位测量方法 [P].

近藤智则 ;

铃木祐太 ;

的场贤一 .

中国专利 :CN109556518A ,2019-04-02

[47] 测量方法、测量装置、测量系统及记录介质 [P].

小林祥宏 .

中国专利 :CN113494952A ,2021-10-12

[48] 测量装置、测量系统和测量方法 [P].

李安宁 ;

唐辉强 ;

贾佳 .

中国专利 :CN114145765A ,2022-03-08

[49] 组合式光源的色度测量方法与系统 [P].

冯清章 ;

黄桂霖 ;

王遵义 .

中国专利 :CN102455216B ,2012-05-16

[50] 测量装置、测量系统和测量方法 [P].

饭田幸生 ;

山田笃 ;

市原卓哉 ;

广井聪幸 .

中国专利 :CN113795750A ,2021-12-14

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