内存的测试方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010739409.0

申请日：

2020-07-28

公开(公告)号：

CN112015605B

公开(公告)日：

2024-05-14

发明(设计)人：

李创锋邹念锋

申请人：

深圳市金泰克半导体有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市坪山区龙田街道长方照明工业厂区厂房B一、四层

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481

代理人：

李雪鹃;王旭

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-14	授权	授权

共 50 条

[41] 测试方法、装置、计算机可读存储介质和计算机设备 [P].

杨军 ;

文施嘉 .

中国专利 :CN110221983A ,2019-09-10

[42] 测试方法、装置、计算机可读存储介质和计算机设备 [P].

陈六四 .

中国专利 :CN109359036A ,2019-02-19

[43] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

严歌 .

中国专利 :CN113704037A ,2021-11-26

[44] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王志鹏 ;

郑昆 ;

谢晨浩 ;

丁胜 ;

何朝辉 ;

叶嘉俊 .

中国专利 :CN117516969A ,2024-02-06

[45] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

马旭 ;

高辉 .

中国专利 :CN118337683B ,2024-10-29

[46] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

马旭 ;

高辉 .

中国专利 :CN118337683A ,2024-07-12

[47] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张小宋 ;

李全明 ;

张振林 .

中国专利 :CN117331772A ,2024-01-02

[48] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王志鹏 ;

郑昆 ;

谢晨浩 ;

丁胜 ;

何朝辉 ;

叶嘉俊 .

中国专利 :CN117516969B ,2024-07-19

[49] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

钟嘉华 .

中国专利 :CN111398701B ,2020-07-10

[50] 设备测试方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质 [P].

吴婕 .

中国专利 :CN113891064A ,2022-01-04

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