设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410774181.7
申请日
2024-06-17
公开(公告)号
CN118337683B
公开(公告)日
2024-10-29
发明(设计)人
马旭 高辉
申请人
北京欣博电子科技有限公司
申请人地址
100094 北京市海淀区丰豪东路9号院2号楼4单元701
IPC主分类号
H04L43/50
IPC分类号
H04L43/00
代理机构
北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人
魏朋
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]   设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
马旭 ;
高辉 .
中国专利 :CN118337683A ,2024-07-12
[2]   测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
孟召潮 ;
秦晓宁 ;
陈颖 ;
王添 .
中国专利 :CN117370085B ,2025-02-28
[3]   测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
孟召潮 ;
秦晓宁 ;
陈颖 ;
王添 .
中国专利 :CN117370085A ,2024-01-09
[4]   设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
严歌 .
中国专利 :CN113704037A ,2021-11-26
[5]   设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
王志鹏 ;
郑昆 ;
谢晨浩 ;
丁胜 ;
何朝辉 ;
叶嘉俊 .
中国专利 :CN117516969A ,2024-02-06
[6]   设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
张小宋 ;
李全明 ;
张振林 .
中国专利 :CN117331772A ,2024-01-02
[7]   设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
王志鹏 ;
郑昆 ;
谢晨浩 ;
丁胜 ;
何朝辉 ;
叶嘉俊 .
中国专利 :CN117516969B ,2024-07-19
[8]   设备测试方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质 [P]. 
吴婕 .
中国专利 :CN113891064A ,2022-01-04
[9]   信号测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
杨晨 ;
马杰 ;
谢勇 ;
曹双林 ;
聂华 ;
黄建新 .
中国专利 :CN114090351A ,2022-02-25
[10]   设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
钟嘉华 .
中国专利 :CN111398701B ,2020-07-10