内存的测试方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010739409.0

申请日：

2020-07-28

公开(公告)号：

CN112015605B

公开(公告)日：

2024-05-14

发明(设计)人：

李创锋邹念锋

申请人：

深圳市金泰克半导体有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市坪山区龙田街道长方照明工业厂区厂房B一、四层

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481

代理人：

李雪鹃;王旭

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-14	授权	授权

共 50 条

[1] 内存的测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李创锋 ;

邹念锋 .

中国专利 :CN112015605A ,2020-12-01

[2] 内存测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

梁春意 ;

农腾飞 ;

曹祥 .

中国专利 :CN110164502A ,2019-08-23

[3] 内存测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

乔海波 ;

许飞 ;

陈颖 ;

秦晓宁 ;

魏冰清 .

中国专利 :CN114490200A ,2022-05-13

[4] 内存访问方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王世凯 ;

孙建康 ;

马超 ;

李洋 ;

刘奔 .

中国专利 :CN111338988B ,2020-06-26

[5] 测试方法、装置、计算机可读存储介质和计算机设备 [P].

王薇 ;

陈珊珊 ;

杨姣玉 .

中国专利 :CN110162453B ,2019-08-23

[6] 内存测试方法、装置和计算机设备 [P].

李吉庆 ;

陈颖 ;

秦晓宁 .

中国专利 :CN118377663A ,2024-07-23

[7] 压力测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

程芬 ;

褚红丹 ;

刘琼 ;

刘献美 .

中国专利 :CN111294359A ,2020-06-16

[8] 应用测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张燕群 .

中国专利 :CN114518997A ,2022-05-20

[9] 性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李元磊 ;

秦晓宁 ;

陈颖 .

中国专利 :CN118363805A ,2024-07-19

[10] 软件测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王旭松 ;

周嵩 ;

刘利军 ;

柴树军 ;

郭景阳 .

中国专利 :CN110134581A ,2019-08-16

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