应用测试方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

申请号：

CN202011303834.1

申请日：

2020-11-19

公开(公告)号：

CN114518997A

公开(公告)日：

2022-05-20

发明(设计)人：

张燕群

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区学府路软件产业基地1栋B座8楼

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

黄恕

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-20	公开	公开
2022-06-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20201119

共 50 条

[1] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

孟召潮 ;

秦晓宁 ;

陈颖 ;

王添 .

中国专利 :CN117370085B ,2025-02-28

[2] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

孟召潮 ;

秦晓宁 ;

陈颖 ;

王添 .

中国专利 :CN117370085A ,2024-01-09

[3] 测试设备、测试方法、计算机设备和计算机可读存储介质 [P].

吴承明 ;

朱阿男 ;

毛孝飞 ;

丁明华 .

中国专利 :CN108490338A ,2018-09-04

[4] 测试方法、装置、计算机可读存储介质和计算机设备 [P].

王薇 ;

陈珊珊 ;

杨姣玉 .

中国专利 :CN110162453B ,2019-08-23

[5] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王志鹏 ;

郑昆 ;

谢晨浩 ;

丁胜 ;

何朝辉 ;

叶嘉俊 .

中国专利 :CN117516969A ,2024-02-06

[6] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

马旭 ;

高辉 .

中国专利 :CN118337683B ,2024-10-29

[7] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

马旭 ;

高辉 .

中国专利 :CN118337683A ,2024-07-12

[8] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张小宋 ;

李全明 ;

张振林 .

中国专利 :CN117331772A ,2024-01-02

[9] 设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王志鹏 ;

郑昆 ;

谢晨浩 ;

丁胜 ;

何朝辉 ;

叶嘉俊 .

中国专利 :CN117516969B ,2024-07-19

[10] 设备测试方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质 [P].

吴婕 .

中国专利 :CN113891064A ,2022-01-04

← 1 2 3 4 5 →