光学测量装置以及光学测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910030710.1

申请日：

2019-01-14

公开(公告)号：

CN110274543B

公开(公告)日：

2019-09-24

发明(设计)人：

髙嶋润近藤智则

申请人：

申请人地址：

日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地(邮编:600-8530)

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

杨文娟;臧建明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-14	授权	授权
2019-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20190114
2019-09-24	公开	公开

共 50 条

[1] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

田口都一 ;

入江优 .

中国专利 :CN113137929A ,2021-07-20

[2] 光学测量装置以及光学测量方法 [P].

髙嶋润 ;

金谷义宏 .

中国专利 :CN112654834A ,2021-04-13

[3] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

梶井阳介 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN112639392B ,2021-04-09

[4] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

梶井阳介 ;

的场贤一 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN110058249A ,2019-07-26

[5] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN112710634B ,2025-06-24

[6] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN120558845A ,2025-08-29

[7] 光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

中国专利 :CN112710634A ,2021-04-27

[8] 光学测量装置、内窥镜系统以及光学测量方法 [P].

后野和弘 .

中国专利 :CN103281948B ,2013-09-04

[9] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[10] 光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

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