共 50 条
位移测量装置、测量系统及位移测量方法
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN201810151188.8
申请日:
2018-02-13
公开(公告)号:
CN109557545A
公开(公告)日:
2019-04-02
发明(设计)人:
近藤智则
铃木祐太
的场贤一
金谷义宏
申请人:
申请人地址:
日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地
IPC主分类号:
G01S1708
IPC分类号:
代理机构:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人:
马爽;臧建明
法律状态:
公开
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2019-04-02 | 公开 | 公开 |
2019-04-26 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 17/08 申请日:20180213 |