位移测量装置、测量系统及位移测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810151188.8

申请日：

2018-02-13

公开(公告)号：

CN109557545A

公开(公告)日：

2019-04-02

发明(设计)人：

近藤智则铃木祐太的场贤一金谷义宏

申请人：

申请人地址：

日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地

IPC主分类号：

G01S1708

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

马爽;臧建明

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-04-02	公开	公开
2019-04-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 17/08 申请日:20180213

共 50 条

[21] 工装装配位置位移测量装置及测量方法 [P].

王志乾 ;

雷沛 ;

胥军 ;

曾超 ;

陈强 ;

唐嘉文 ;

张文过 .

中国专利 :CN118009948A ,2024-05-10

[22] 位移测量方法 [P].

张书练 ;

牛海莎 ;

谈宜东 .

中国专利 :CN103115573B ,2013-05-22

[23] 位移测量方法、位移测量装置、电子设备及存储介质 [P].

陈凯 ;

涂春江 .

中国专利 :CN119714142A ,2025-03-28

[24] 拼接光栅位移测量系统及测量方法 [P].

李文昊 ;

刘林 ;

刘兆武 ;

尹云飞 ;

白宇 ;

王玮 ;

于宏柱 ;

吉日嘎兰图 .

中国专利 :CN112097644A ,2020-12-18

[25] 巷道断面位移测量系统及测量方法 [P].

张辉 ;

赵阳羲 ;

王正胜 ;

李帅 ;

蔡志华 .

中国专利 :CN112033285A ,2020-12-04

[26] 位移测量装置 [P].

巴斯蒂安·安德烈亚斯·德赫尔里彭 ;

马克·安东尼·曼奈斯 .

中国专利 :CN110799799B ,2020-02-14

[27] 位移测量装置 [P].

L·波戈农 ;

M·卡蒂洛 ;

R·杜泰尔 .

中国专利 :CN1175243C ,2001-07-25

[28] 位移测量装置 [P].

阿希姆·策恩 ;

格尔德·埃克尔 .

中国专利 :CN103069255B ,2013-04-24

[29] 位移测量装置 [P].

赵永生 ;

施亦舟 ;

王海宾 ;

杨立泽 .

中国专利 :CN216746024U ,2022-06-14

[30] 位移测量装置 [P].

坂本秀树 .

中国专利 :CN113495265A ,2021-10-12

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