一种基于微波辐射计天线温度检测的亮温订正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910772420.4

申请日：

2019-08-21

公开(公告)号：

CN110455416B

公开(公告)日：

2019-11-15

发明(设计)人：

安大伟张志清

申请人：

申请人地址：

100081 北京市海淀区中关村南大街46号

IPC主分类号：

G01J500

IPC分类号：

代理机构：

北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙) 11639

代理人：

王民盛

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-12	授权	授权
2019-11-15	公开	公开
2019-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20190821

共 50 条

[21] 一种星载微波辐射计的偏差校正方法 [P].

何杰颖 ;

张升伟 ;

王振占 .

中国专利 :CN106569186B ,2017-04-19

[22] 一种微波辐射计性能检测设备 [P].

晏秋生 ;

傅平 ;

付俊生 ;

胡勇 .

中国专利 :CN218240388U ,2023-01-06

[23] 基于星载多波束微波辐射计的亮温图像数据集生成方法 [P].

靳榕 ;

梁爽 ;

李一楠 ;

窦昊锋 ;

杨小娇 ;

刘淑波 .

中国专利 :CN117870872A ,2024-04-12

[24] 基于星载多波束微波辐射计的亮温图像数据集生成方法 [P].

靳榕 ;

梁爽 ;

李一楠 ;

窦昊锋 ;

杨小娇 ;

刘淑波 .

中国专利 :CN117870872B ,2024-07-23

[25] 一种基于节点采样的一维综合孔径微波辐射计近岸亮温提升方法 [P].

殷晓斌 ;

孙宁哲 ;

李炎 .

中国专利 :CN119313599A ,2025-01-14

[26] 评估微波辐射计亮温数据长时间序列稳定性的方法 [P].

王士帅 ;

殷晓斌 ;

赵朝方 ;

何明耀 .

中国专利 :CN114608708A ,2022-06-10

[27] 评估微波辐射计亮温数据长时间序列稳定性的方法 [P].

王士帅 ;

殷晓斌 ;

赵朝方 ;

何明耀 .

中国专利 :CN114608708B ,2024-07-19

[28] 一种基于节点采样的一维综合孔径微波辐射计近岸亮温提升方法 [P].

殷晓斌 ;

孙宁哲 ;

李炎 .

中国专利 :CN119313599B ,2025-05-30

[29] 一种微波辐射计支架 [P].

祖彪 ;

张军 ;

管兆军 ;

李波 .

中国专利 :CN218327327U ,2023-01-17

[30] 一种适用于星载大口径天线微波辐射计的全口径定标方法 [P].

安大伟 ;

张志清 .

中国专利 :CN109521405A ,2019-03-26

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