一种适用于星载大口径天线微波辐射计的全口径定标方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811476639.1
申请日
2018-12-05
公开(公告)号
CN109521405A
公开(公告)日
2019-03-26
发明(设计)人
安大伟 张志清
申请人
申请人地址
100081 北京市海淀区中关村南大街46号
IPC主分类号
G01S740
IPC分类号
代理机构
北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙) 11639
代理人
王民盛
法律状态
实质审查的生效
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共 50 条
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