一种位移测量系统以及曝光设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710114465.3
申请日
2017-02-28
公开(公告)号
CN108508706B
公开(公告)日
2018-09-07
发明(设计)人
陈南曙 张金贵
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张东路1525号
IPC主分类号
G03F720
IPC分类号
G01B1102
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
屈蘅;李时云
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
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