共 50 条
一种位移测量系统以及曝光设备
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN201710114465.3
申请日:
2017-02-28
公开(公告)号:
CN108508706B
公开(公告)日:
2018-09-07
发明(设计)人:
陈南曙
张金贵
申请人:
申请人地址:
201203 上海市浦东新区张东路1525号
IPC主分类号:
G03F720
IPC分类号:
G01B1102
代理机构:
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人:
屈蘅;李时云
法律状态:
公开
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2018-09-07 | 公开 | 公开 |
2018-10-09 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20170228 |
2020-04-10 | 授权 | 授权 |